在机器视觉技术中，亮场和暗场缺陷检测是两种常用的表面缺陷检测方法，它们在原理和应用上存在着明显的区别。
亮场缺陷检测是利用光源照射被检测物体，使物体表面均匀明亮，从而能够清晰地观察到物体的细节和特征。在亮场检测中，缺陷通常呈现为较暗的区域，因为缺陷会吸收或散射光线，导致其在图像中显现出较低的亮度。亮场缺陷检测适用于检测物体表面的凹陷、裂纹、划痕等问题，对于这些缺陷，其在明亮背景下更容易被观察和识别。
暗场缺陷检测则是通过将光源放置在被检测物体的背后，使物体在图像中呈现暗色背景，从而突出显示物体表面的亮度变化。在暗场检测中，缺陷通常呈现为较亮的区域，因为缺陷可能会反射更多的光线，使其在暗色背景下更加明显。暗场缺陷检测适用于检测表面的凸起、颗粒、瑕疵等问题，这些缺陷在暗色背景下更容易被突出显示。
另一个区别在于检测的灵敏度。亮场检测对于较大的缺陷或明显的变化更为敏感，而暗场检测则对微小的亮度变化更为敏感，因此在应用中需要根据具体情况选择合适的检测方法。
了解它们的区别和特点有助于在实际应用中选择合适的检测方法，提高产品质量和生产效率。在实际应用中，根据被检测物体的性质和缺陷类型，可以选择使用亮场或暗场缺陷检测方法，甚至结合两者的优势来进行综合检测。这样能够更全面地检测和分析表面缺陷，为质量控制和产品检测提供更可靠的支持。